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最新lcd tp connector微针模组测试座
定位精度高;
采用进口高性能探针,使用次数超过30万次,
采用探针接触,避免了因使用mating connector造成的connector压伤和锡裂;
用进口材料,高精度设备加工,使夹具经久耐用,降低夹具的维护成本...
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connec
to
r摄像头模组测试座
◆ 采用手动翻盖/手自一体,定位精确,操作方便
◆ 采用进口镀金探针和进口防静电材料 (torlon、pei、 pps、peek、fr4)
◆ 压板自动调节对ic的压力,保证下压力均匀:探针
自适应能力强,...
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定制bga一拖四翻盖探针测试治具
产品数据:
1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料:fp4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封装:bga/qfp/qfn/wscp等
4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、open-
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fpc/connec
to
r弹片微针模组测试治具
fpc/ffc的终端连接电路、组件等进行电气测试;
照相机的照相模块、马达模块的电气性能测试;
硬盘、软盘等磁头模块、马达模块的电气性能测试;
lcd/tfp(带fpc/ffp)等显示屏电气性能测试;
各类...
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7050-4pin单面弹晶振老化座
产品数据:
1、材料:pei
2、适用ic尺寸:1.5x1.5~12x12mm
3、最高频率:>9.3ghz
4、结构:open-
to
p/翻盖
5、接触方式:探针
6、工作温度:-55°c~175°c<...
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5032-4pin单面弹晶振测试座
产品数据:
1、材料:pei
2、适用ic尺寸:1.5x1.5~12x12mm
3、最高频率:>9.3ghz
4、结构:open-
to
p/翻盖
5、接触方式:探针
6、工作温度:-55°c~175°c<...
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贴片晶振2016-4pin晶振双面弹测试座
产品数据: 1、材料:pei 2、适用ic尺寸:1.5x1.5~12x12mm 3、最高频率:>9.3ghz 4、结构:open-
to
p/翻盖 5、接触方式:探针 6、工作温度:-55°c~175°c 探针接触细节 产品特点:...
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晶体振荡器插座7050贴片晶振老化测试座7.0 x5.0mm
open-
to
p结构采用双触点技术,接触更稳定 测试座外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
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晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座
open-
to
p结构采用双触点技术,接触更稳定 测试座外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
更多
5032贴片晶振测试座
open-
to
p结构采用双触点技术,接触更稳定 测试座外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
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3225晶振测试老化座-四pin
open-
to
p结构采用双触点技术,接触更稳定
测试座外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好
镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、...
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晶振频率测试老化座
open-
to
p结构采用双触点技术,接触更稳定
?座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
?弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好
?镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗...
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度信接口gc0307-p 摄像头芯片翻盖探针测试座
gc0307芯片测试座.专用度信主板测试sensor,如galaxycore、. byd 、micron(aptina) 、samsung 、magnachip 、ov 、siliconfile 、set、. stmicro 、pixelplus 、philips、superpix、pixart等品牌.
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度信接口 ov7670-p 摄像头芯片翻盖探针测试座
ov7670芯片测试座.专用度信主板测试sensor,如galaxycore、. byd 、micron(aptina) 、samsung 、magnachip 、ov 、siliconfile 、set、. stmicro 、pixelplus 、philips、superpix、pixart等品牌.
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度信接口 gc0309-p 摄像头芯片翻盖探针测试座
gc0309 芯片测试座.专用度信主板测试sensor,如galaxycore、. byd 、micron(aptina) 、samsung 、magnachip 、ov 、siliconfile 、set、. stmicro 、pixelplus 、philips、superpix、pixart等品牌.
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度信接口 ov2675-p 摄像头芯片翻盖探针测试座
ov2675 芯片测试座.专用度信主板测试sensor,如galaxycore、. byd 、micron(aptina) 、samsung 、magnachip 、ov 、siliconfile 、set、. stmicro 、pixelplus 、philips、superpix、pixart等品牌.
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度信接口bf3703-p摄像头芯片翻盖探针测试座
bf3703 芯片测试座 专用度信主板测试sensor,如galaxycore、. byd 、micron(aptina) 、samsung 、magnachip 、ov 、siliconfile 、set、. stmicro 、pixelplus 、philips、superpix、pixart等品牌.
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emmc153/169下压弹片转usb接口芯片测试座
1. 采用弹片下压转sd接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153pin和169pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容ic厚...
更多
emcp162/186下压弹片转usb接口ic测试座
1. 采用弹片下压转usb接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162pin和186pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容ic厚...
更多
emmc/emcp四合一金属探针座转usb3.0接口
1. 采用翻盖探针转usb3.0接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容emmc100、emmc153/169、emcp162/186、emcp221 .
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定...
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