鸿怡电子生产的现货标准品uson8/dfn8pin-0.5mm-2x3mm jun工级耐高低温芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用uson8/dfn8/qfn8/lga8/wson8芯片测试环境:老化、测试、烧录
dfn8pin芯片老化测试座产品简介:
芯片高低温测试范围:-55°~ 175°,芯片老化测试时长:8000小时
特点:彩用耐高温 镀金弹片, 接触稳定,双面弹下压结构,方便拆卸
我司可提供规格书(布板图)资料,pdf档\cad
该款dfn8pin芯片老化座耐高低温,无需焊接
老炼座结构:下压式
老炼座材料:塑胶