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uson8/dfn8pin-0.5mm-2x3mm军工级耐高低温芯片老化测试座详细信息/detailed information

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uson8/dfn8pin-0.5mm-2x3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

dfn8pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装形式:uson8/dfn8/qfn8/lga8/wson8
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:2*3mm
订购热线:13631538587

鸿怡电子生产的现货标准品uson8/dfn8pin-0.5mm-2x3mm  jun工级耐高低温芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用uson8/dfn8/qfn8/lga8/wson8芯片测试环境:老化、测试、烧录

dfn8pin芯片老化测试座产品简介:

芯片高低温测试范围:-55°~ 175°,芯片老化测试时长:8000小时

特点:彩用耐高温 镀金弹片, 接触稳定,双面弹下压结构,方便拆卸

我司可提供规格书(布板图)资料,pdf档\cad

该款dfn8pin芯片老化座耐高低温,无需焊接

老炼座结构:下压式

老炼座材料:塑胶

dfn8测试座图纸

dfn8芯片老化座

芯片老化座

芯片老化测试夹具

uson8芯片老化座



采购:uson8/dfn8pin-0.5mm-2x3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

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芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:1.0mm
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芯片封装形式:qfn
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.4mm
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芯片封装形式:bga
芯片引脚:272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距:1.0mm
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