进口qfp32pin翻盖老化测试座-九游会平台

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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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qfp32pin-0.8mm-77mm翻盖老化测试座详细信息/detailed information*

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qfp32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座

qfp32pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7mm
芯片含引脚尺寸：9*9mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子进口的qfp32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

芯片老化测试座型号：进口qfp32pin-0.8mm-7*7mm，ic51-0324-1498

测试座品牌：yamaichi

qfp32转dip32编程座、烧录座、测试座

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

芯片老化座

qfp芯片老化座

鸿怡电子 ic测试座芯片测试座 ic测试夹具治具 qfp芯片老化座 qfp芯片烧录座

采购：qfp32pin-0.8mm-77mm翻盖老化测试座*

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芯片封装形式：cqfp
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芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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