鸿怡电子生产的qfn48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
该款qfn芯片老化座适用环境:老化、测试、烧录
适用老化测试温度:-45°~ 155°
老化测试结构:翻盖式
老化座材料:塑胶
联系客服可提供详细的图纸资料