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qfn48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座详细信息/detailed information

qfn48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

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qfn48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

qfn48pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产的qfn48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

qfn48pin芯片适用测试环境：老化、测试、烧录

qfn芯片老化座产品简介：

芯片测试电流：500ma

芯片测试频率：360mhz

芯片老化测试温度：-40°~ 150°

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

ic老炼座

芯片老化座

qfn芯片老化测试座

qfn芯片老化socket

鸿怡电子 ic测试座芯片测试座 ic测试夹具治具 qfn芯片测试座 qfn芯片老化座 qfn芯片烧录座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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