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qfn24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座详细信息/detailed information

qfn24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座

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qfn24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座

qfn24pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：hmilu
芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用qfn24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片hast/htol测试

qfn24pin芯片测试座产品间距：

芯片测试电流：500ma

hast测试： 130°，85%湿度

htol测试：温循-55°~ 125°，单次满足1000小时

芯片老化座结构：旋钮翻盖式

ic测试座

芯片测试座

qfn芯片测试socket

芯片测试夹具

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：18.4*18.4mm

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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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