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qfn24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座

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qfn24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座

qfn24pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：hmilu
芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：3*3mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用qfn24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

qfn24pin芯片测试座产品简介

1.芯片测试工作频率50mhz.
2.芯片测试最大电流0.15a
3.芯片测试温度：-55度～125度

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

ic测试座

芯片测试座

芯片测试夹具

qfn芯片测试座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：18.4*18.4mm

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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：21*21mm

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