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qfn24-0.4(4*4)翻盖弹片ic测试老化座详细信息/detailed information

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qfn24-0.4(4*4)翻盖弹片ic测试老化座

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工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片老化座
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  qfn24-0.4翻盖弹片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对qfn24的ic芯片进行烧写、测试

适用封装:qfn24引脚间距0.4mm

测试座:qfn24-0.4

特点:采用u型顶针,接触更稳定

采购:qfn24-0.4(4*4)翻盖弹片ic测试老化座

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