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qfn20pin-0.65mm芯片老化测试座详细信息/detailed information

qfn20pin-0.65mm芯片老化测试座

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qfn20pin-0.65mm芯片老化测试座

qfn20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产的qfn20pin-0.65mm芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款芯片老化座适用于qfn20pin芯片老化、测试、烧录使用

qfn20pin芯片老化测试夹具产品简介：

芯片测试电流：200ma

芯片老化测试温度：-45°~ 155°

芯片测试频率：2mhz

老化座结构：翻盖式

ic老炼座

ic老化测试座

qfn老化座

qfn芯片老化测试夹具

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芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
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