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ic测试座下压弹片老化座qfn56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制详细信息/detailed information

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ic测试座下压弹片老化座qfn56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制

本款ic测试座适配qfn封装 56pin 0.5mm间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片,通孔焊接结构,适合批量烧录、老化使用。
更优的价格,更高的品质,新老客户均可放心选购
若您在我公司网站未找到适合您芯片的ic测试座产品,可直接联系客服人员,咨询定制
订购热线:13631538587

ic测试座下压弹片老化座qfn56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制


qfn56-0.5翻盖弹片测试座

       产品简介

产品用途:编程座、测试座,对qfn56的ic芯片进行烧写、测试

适用封装:qfn56引脚间距0.5mm

测试座:qfn56-0.5

特点:采用u型顶针,接触更稳定

       规格尺寸

型号:qfn-56-0.5

引脚间距(mm):0.5

脚位:56

适配芯片尺寸:8*8mm


采购:ic测试座下压弹片老化座qfn56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制

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