鸿怡电子生产定制的esop8pin-1.27mm-4.6x6mm翻盖探针芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用esop8pin芯片测试环境:老化、测试、烧录(该款为老化测试,支持开尔文测试)
esop8芯片老化测试socket产品简介:
芯片测试电流:0.5a
芯片老化测试温度:-45°~ 155°,老化时长168h和1000h重复使用
芯片老化座结构:翻盖式
芯片老化夹具材料:塑胶