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定制wlcsp36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座详细信息/detailed information

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定制wlcsp36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座

wlcsp36pin晶振测试座规格参数:
晶振封装形式:wlcsp
晶振引脚:36pin
晶振引脚间距:0.4mm
适配晶振尺寸:2.487*2.541mm
订购热线:13631538587

鸿怡电子生产定制的wlcsp36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用wlcsp36pin晶振测试环境:老化、烧录、测试

wlcsp36pin晶振测试座产品简介:

晶振测试温度:-40°~ 125°,持续测试时长:1000小时

晶振测试电流:1a

晶振测试频率:100mhz

晶振测试电压:小于10v

晶振测试座结构:翻盖式

晶振测试座材料:塑胶

ic测试座

芯片测试座

wlcsp芯片测试座

wlcsp芯片测试夹具

wlcsp芯片测试socket



采购:定制wlcsp36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座

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芯片引脚间距:1.0mm
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芯片封装形式:qfn
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.4mm
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芯片封装形式:bga
芯片引脚:272pin-实际下针85pin
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