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定制sot89-3l-1.5(4.5x2.45)合金翻盖探针老化座测试座夹具详细信息/detailed information

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定制sot89-3l-1.5(4.5x2.45)合金翻盖探针老化座测试座夹具

sot89-3l封装芯片测试座,本体尺寸4.5*2.45mm
电流100ma
功率:0.5w
老化温度:125度@1000h
芯片背面有接地pad,需要使用用铜块散热
订购热线:13631538587

1、适配芯片规格:


sot89-3l封装


sot89-3l封装芯片测试座特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)pcb与socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

sot89-3l测试socket

sot89-3l烧录座

sot89-3l老炼夹具

sot89-3l测试座

sot89-3l老化座

sot89-3l测试夹具

采购:定制sot89-3l-1.5(4.5x2.45)合金翻盖探针老化座测试座夹具

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