鸿怡电子生产定制的qfn60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用芯片测试环境:老化、烧录、测试,芯片功能性测试
芯片测试频率:20ghz(有测试插损、回损要求)
芯片测试电流:200ma
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金