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定制qfn56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针芯片老化测试座

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定制qfn56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针芯片老化测试座

qfn56pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：hmilu
芯片封装形式：qfn
芯片引脚：56pin
芯片引脚：0.4mm
适配芯片尺寸：7*7mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用qfn56pin芯片测试环境：老化、测试、编程烧录

qfn56pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试电流：300ma

芯片测试频率：1ghz

芯片测试温度：-55°~ 175°

芯片测试座结构：旋钮翻盖式

芯片测试座材料：合金

ic测试座

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qfn测试座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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