鸿怡电子生产定制的qfn40pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用qfn40pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,可用于qfn芯片hast高温高湿测试/htol测试
qfn40pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:300mhz
芯片测试电流:100ma
芯片测试座温度:-45°~ 125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金