鸿怡电子生产定制的qfn36pin-0.8mm-9x9mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用qfn36pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,适用qfn36pin芯片hast测试
qfn36pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:1a
芯片测试电压:100v以内
芯片测试温度:-45°~ 150°,持续时长:1000小时
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金