定制qfn12pin-九游会平台

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定制qfn12pin-0.5mm-3x3mm合金翻盖测试座

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定制qfn12pin-0.5mm-3x3mm合金翻盖测试座

qfn12pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：12pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3×3mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn12pin-0.5mm-3x3mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

qfn芯片测试座、qfn芯片烧录座、qfn芯片老化座

qfn12pin芯片测试条件要求：

芯片测试电流：80ma

芯片测试电压：5v

芯片测试频率：100mhz

测试温度：常温

测试座结构：翻盖

测试座材料：合金

ic测试座

芯片测试座

qfn12测试座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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