鸿怡电子生产定制的lga79pin-1.1mm（16x12.2mm)合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
产品简介：
适用于lga芯片测试、老化、烧录
lga79pin封装芯片测试条件要求：
芯片测试频率：2ghz
芯片测试电流：500ma
芯片测试温度：-50°~80°
无其他测试要求
测试座结构：翻盖式
测试座材料：合金
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