鸿怡电子生产定制的lcc22pin-2.03mm-15.2*15.2mm芯片合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用lcc22pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
lcc22pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:100mhz
芯片测试温度:-45°~ 85°,测试时长:72小时
芯片测试电流:40ma
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金