定制dfn6pin-九游会平台

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定制dfn6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

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定制dfn6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

dfn6pin芯片探针老化座规格参数
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：1.1×0.7mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的dfn6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

dfn芯片测试座、dfn芯片老化座、dfn芯片烧录座

dfn6pin芯片老化测试条件要求：

芯片老化测试温度：125°，持续1000小时

芯片测试电流：450ma

芯片测试频率：4g

芯片测试电压：3.3v

老化座结构：翻盖

老化座材料：塑胶

ic老化测试座

dfn6pin老化座

鸿怡电子 ic老化座芯片老化座 ic老化测试夹具治具 dfn芯片测试座 dfn芯片老化座 dfn老炼座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：21*21mm

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