ddr3*8一拖八内存条测试治具|ddr测试夹具 -九游会平台
您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司j9九游会登陆入口官网
当前位置:九游会平台-j9九游会登陆入口 » 鸿怡电子九游会平台的产品中心 » ddr测试夹具 » ddr3*8一拖八内存条测试治具

ddr3*8一拖八内存条测试治具详细信息/detailed information

prevnext

ddr3*8一拖八内存条测试治具

集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
订购热线:13631538587
产品特点及性能参数:
◆产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,把频率衰减降到最低,减少误测;
◆产品打开方向背离金手指方向。更适合人性化操作,同时不会和卡槽位发生干涉。
◆产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度<13mm 长度<14mm);
◆有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个ic平衡下压;
◆采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命; 
◆内存颗粒测试pcb经过高精度的cnc二次加工,从而保证了与合金件的定位精确,达到更优化的测试精度,同时金手指和ic焊盘的镀金厚度是普通的pcb的十数倍,保证测试治具具有更好的导通和耐磨性,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命。
◆独特的针板设计,采用开模标件,能够独立更换,同时利用定位销与合金件精确定位,客户可进行备件,方便更换,维修简便,为生产节约宝贵时间。

◆采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高,ddr3系列最高频率可达2000mhz;见附表


sdr和ddfr对照表

◆高精度合金ic定位框,保证ic定位精确,取放ic方便,从而提高测试效率;      
◆测试寿命长,有效测试10万次以上;(视使用环境及相关操作而定)
◆内存颗粒测试治具测试规格:ddr2x8  ddr3x8一次性可测试8颗内存颗粒;
◆单颗内存ic也是采用开模针板制作,如有损坏客户可自行更换,维修简便,为生产争取宝贵时间。同时可定制服务器主控ic测试治具。
◆可以免费提供相关的j9九游会登陆入口的技术支持。
产品服务:
该产品用户可自行维修,本公司按成本价提供相关配件;
※ 保修期内,免费维修(人为损坏、烧坏除外),如果需换件,只收材料成本费。


采购:ddr3*8一拖八内存条测试治具

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / related products

鸿怡九游会平台的产品中心products

ssd固态硬盘测试方案

u盘flash测试座

晶振测试座

ddr测试夹具

emmc/emcp数据恢复

精密定制ic测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(adapter)

ic测试治具

fpc-connector夹子

芯片/老化开短路九游会平台的解决方案

bga返修

ate测试座(自动机台适用)

测试探针

电阻容老化测试座

3c接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷等jun工级封装

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电b座三楼3010c

网站地图