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bga400（下针82pim)-0.8mm-21×16mm塑胶翻盖探针老化测试座

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bga400（下针82pim)-0.8mm-21×16mm塑胶翻盖探针老化测试座

bga400pin芯片老化测试夹具规格参数：
生产品牌：hmilu
芯片封装形式：bga
芯片引脚：400pin（实际下针82pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：21*16mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的bga400（下针82pim)-0.8mm-21×16mm塑胶翻盖探针老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用bga400pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

bga400pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试电流：单pin满足1.5a

芯片测试频率：1ghz

芯片测试温度：-55°~ 155°

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化测试座材料：pei

ic老炼座

bga芯片老化socket

bga芯片老化测试夹具

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：18.4*18.4mm

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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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生产品牌厂家：鸿怡电子—hmilu
芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：21*21mm

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