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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制晶圆级封装wlcsp49烧录座翻盖探针读写夹具0.4pitch

产品简介：
适配封装：wlcsp49，pitch0.4，外形尺寸3*3mm
应用场景：烧录
频率：100mhz以内
电流毫安级
温度常温
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: ufs153-0.5_11.5×13翻盖转usb3.0测试座（sm3350m主控）

产品名称：三星ufs2.0芯片测试座
引脚数：153/169ball
间距:0.5
封装类型bga
支持emmc 5.0及以上；支持ufs 2.1版本；usb3.0，支持热插拔；emmc, emcp和ufs数据的快速读写更多

: 定制bga60-0.8（8×9mm)合金翻盖探针测试座flash读写烧录座

socket性能参数：
工作频率：1666mhz；
工作温度：-55℃~155℃；
单pin电流：1a；
接触阻抗：≤100mω
材质：peek、al
接触材质：镀金探针
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: 定制 qfn16 翻盖合金探针烧录编程装换座读写夹具测试座

①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜...
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: emcp254合金探针测试座 & hs400 emcp读卡器

封装类型：bga
引脚数2~254
间距0.5
导电体pogo pin
支持emcp254版本；usb3.0，支持热插拔；emmc, emcp和ufs数据的快速读写，擦除
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: emmc153 ufs测试座读卡器 hs400主控

封装类型：bga
引脚数2~254
间距0.5
导电体pogo pin
支持emmc 5.0及以上；支持ufs 2.1版本；usb3.0，支持热插拔；emmc, emcp和ufs数据的快速读写，擦除
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: bga254翻盖弹片转sd测试座手机资料读写 emcp254编程座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
bga/emcp254翻盖弹片转sd接口测试座
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: bga137探针座bga137翻盖探针转48测试座socket 翻盖式读写烧录座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn、ic的burn-in socket和test socket
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: emmc5.0转usb3.0测试座 emmc5.1座子 hs200高速读写适配器adapter

鸿怡电子新品强势推出，天津瑞发科主控，emmc5.0测试座支持hs200，实测数据跟芯片密切相关，以下实测数据为h2testw测试报告：
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: emcp162转20pin测试座手机数据恢复座

工厂直销店铺，质优价廉欢迎采购！
翻盖弹片老化座，emcp162/186 翻盖弹片老化座，大量现货当天发！
【适配ic常见规格尺寸：11.5*13mm、12*16mm，0.5mm间距；】
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: emmc153/169下压弹片转sd芯片测试座

emmc169/153转sd测试座 emmc编程器 bga socket烧录座测试治具
间距0.5mm 30pin
常见规格尺寸有：11.5*13、12*16、12*18、14*18
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: emmc153/169翻盖金属探针转usb3.0接口芯片测试座

emmc169探针金属盒转usb3.0母口测试座
emmc153转usb3.0测试座
usb3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: emmc153/169安卓字库数据恢复测试座套装

这款产品可以支持emmc169/153字库的数据恢复(通讯录、照片、视频、短信、app等)，也支持读写，镜像，魅族解锁，字库拆下无需植球，放上就能识别，座子稳定可靠！
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: emmc153/169 emcp162/186emcp221翻盖探针三合一转sd测试座

※ 采用标准sd接口模式，通过读卡器与电脑连接或通过编程器sd接口连接实现测试或烧录等相应操作；
※ 兼容有球无球测试，ic限位框采用模具一体成型，可根据ic选择不同大小限位框进行更换，实现不同;
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: 大小sd卡金点转dip48翻盖探针测试座

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 产品通用程度高，只要换限位框，即可测试所有引脚相同，外形尺寸不同的sd卡；
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: bga100下压弹片转usb ic测试座

产品用途:编程座、测试座，对emmc100的ic芯片进行读写、测试
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: bga221/emcp221翻盖双面弹芯片老化座

此老化座布板有通孔焊接与实心焊盘接触两种（区别是老化座底部pin针长短不同），两种都有现货，欢迎来电咨询
更多

: emcp221翻盖弹片转usb接口测试座

emcp221翻盖弹片转usb测试座工厂大量现货当天发，可直接连接电脑读取数据资料
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: emcp162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座

集成电路应用功能验证测试可根据用户要求定做各种阵列的socket emcp162/186下压弹片转20pin芯片测试座安卓手机数据恢复专用
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: emcp221翻盖弹片转20pin芯片测试座

集成电路应用功能验证测试
可根据用户要求定做各种阵列的socket
emcp221翻盖弹片转20pin芯片测试座安卓手机数据恢复专用
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