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定制bga63一拖二测试治具
在客供的pcb主板装上一拖二式测试座
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定制摄像头芯片bga80合金翻盖探针测试座
型号: bga80-1.0合金翻盖探针测试座
适用场景: 测试 烧录 编程 老化
封装方式: bga
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测试座类型: 翻盖式
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qfn32-0.5
芯片测试
翻盖弹片老化座
材料&特性:
socket本体:pei
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5kg min ,pin越多压力越大
绝缘阻抗:1,000mω,500vdc
最大电流:2a
使用温度:-55℃~175℃@3000小时...
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定制clcc44-1.27测试座 合金翻盖探针老化座编程座 ic座
适用封装芯片为:clcc44pin 间距为1.27mm 尺寸:16.5*16.5m
根据客户需求,上盖和底盖均需要做避空处理
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治具 三星手机测试架
可根据客户需求定制各类ufs测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它pcba板上,直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于odm/半导体fae部门的ic验证。
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全志开发板emmc测试治具
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定制bcm-bga516
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厂家直销,定制bcm-bga516
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无需重新lay板,直接在客供的pcb板上装上治具
脚位精准,测试稳定
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厂家定制cqfp208
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座 定制qfp老化座
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bga254翻盖弹片转sd测试座 手机资料读写 emcp254编程座
产品均有尺寸图纸,如有需要请联系客服提供!
bga/emcp254翻盖弹片转sd接口测试座
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定制emmc153/169
芯片测试
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qfn64-0.4 8*8mm
芯片测试
座 翻盖老化座 烧录座
产品用途:编程座、测试座
适用封装:qfn64 引脚间距0.4mm 芯片尺寸8×8mm
测试座:qfn64-0.4
特点:采用u型顶针,接触更稳定
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emcp221探针金属盒转usb3.0母口测试座bga221转usb3.0测试座
适用于emcp221封装芯片的测试;
可作为bga221
芯片测试
、烧录、老化使用;
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bga784
芯片测试
座 定制bga测试socket
材质: pes,pei
导电体: 镀金探针
触点压力: 30-50g per pin
接触阻抗:30mω or less at 10ma and 20mv (initial)
耐电压: 1minuteatac700
绝缘电阻:1000 mω min,at dc 500v
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qfn48射频ic测试座 定制qfn48socket qfn48合金探针测试座
适用于ic设计公司作芯片的样片功能验证使用
芯片封装参数:qfn48 间距0.5mm 尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3ghz频率,电流200ma
采用进口探针,测试寿命可达8-10w次
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定制sop2509摄像头芯片ate测试座 ic测试座厂家
1、此款测试座适用于自动烧录、测试机台.可设计成翻盖/手自一体的结构,定位精准,操作方便;
2、采用进口镀金探针和防静电材料(torlon\pei\pps\peek) 对残球、锡球不匀的ic都能精确接触。
3、socket只...
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定制qfp144测试座 qfp
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座 ic测试座工厂直销
1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8pitch等
2、材料:fr4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封种:bga/qfp/qfn/wcsp等
4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、open-top
5、接触方式:探针...
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定制qfp176-0.4
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座 翻盖双扣旋钮测试治具
工厂直销,qfp176-0.4合金翻盖测试座;
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的ic测试座;
欢迎来图,来电咨询洽谈;
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三星手机芯片ufs2.0 bga95测试座 适配器间距0.65mm
可测试的ufs芯片型号:kluag2g1bd-e0b2 / klubg4g1bd-e0b1 / klucg8g1bd-e0b1
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