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定制sop36-0.65电源芯片翻盖旋钮测试架治具夹具socket工装
sop36测试架特点:
采用金属铜块导热;
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保ic定位精确;
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定制lqfp100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具测试架socket
qfp100芯片测试架简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试qfp100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:600mhz
特点:①按芯...
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定制qfn22翻盖探针测试座
老化
老炼夹具治具
老化
测试socket
定制qfn22翻盖探针测试座产品简介
芯片pin脚分为两边,整块大pin为d脚,另一边是s脚属于电源部分,一进一出需要2100v/500ma;
其他引脚使用普通pin即可;
芯片的开关频率是200khz,需要
老化
座测试座烧录夹具治具socket焊接式
7050-4晶振
老化
座特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:pei;
③接触方式及材质:单头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:pei;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:...
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定制wlcsp12晶圆级封装ic测试座烧录座夹具socket老炼
老化
夹具
定制wlcsp12烧录座夹具治具特点:
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、...
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定制wlcsp25ball晶圆级封装芯片测试座测试夹具socket烧录座治具
定制wlcsp25烧录座夹具治具特点:
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、...
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定制pdfn6x8 / qfn33-0.65开模翻开塑胶探针高温
老化
座
老化
夹具老炼座治具socket
产品简介:pdfn6x8(qfn33-0.65封装)新封装芯片150℃高温
老化
座
特点:采用开模注塑外壳,核心部分通过cnc加工的方式定制各种非标
老化
测试座。
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定制lqfp80翻盖旋钮探针烧录座 测试socket
老化
夹具
产品简介:lqfp80标准封装烧录夹具
特点:采用合金探针设计,探针可单独更换,单次寿命长达10w
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定制 pcb模块金手指/焊盘/测试点 测试座 socket 夹具 治具
产品简介:pcb模块金手指焊盘测试点测试座
适配规格:17个pin点,外形尺寸29*29mm ,间距1.54mm
性能要求:导通即可,无特殊高速信号要求
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定制wlcsp21烧录读写夹具测试编程座socket烧录座
wlcsp21烧录夹具特性:
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力...
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lga24翻盖探针老炼夹具
老化
座测试座socket烧录编程
lga24塑胶探针
老化
座
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:pei、pps;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni;
4、单pin额定电压&电流:...
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bga77封装器件 测试座
老化
座 老炼夹具 治具 socket dc电源管理ic
产品简介:bga77封装器件
老化
座老炼夹具
bga77
老化
座参数
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:torlon;外壳材质:pei;
3、探针镀覆:...
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bga/emmc153/169合金下压探针测试座读写座测试socket
产品简介:标准的emmc封装芯片30pin引出
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:...
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csop16翻盖探测
老化
座测试座socket夹具
产品简介:非标准csop封装芯片
设计要点:探针与芯片本体底部pad接触,避免芯片引脚变形
材质:铝合金 peek
寿命:10w
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定制sop48封装芯片翻盖探针测试架测试治具socket烧录座
产品简介:客户提供pcba测试底板,拆卸sop48封装芯片改装而成。
适配芯片:sop封装,48pin,间距0.5mm,含引脚尺寸12.6*8.3mm
温度常温
每单pin电流过1a内
频率在1000mzh
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定制bga1144翻盖旋钮探针测试座socket高频大功率风冷散热测试夹具治具工装
产品简介: 适配芯片:bga1144封装,pitch1.0mm,尺寸:34.8*34.8mm
测试温度:-40℃~125℃
测试频率:2.6ghz,采用双头高频测试探针
最大功率:30w,使用铜块导热 散热片 风冷设计
j9九游会登陆入口的技术支持:...
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wlcsp烧录座读写夹具
老化
座socket带黄铜散热
wlcsp探针测试座
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:pei;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni;
4、单pin额定电压&电流:直流12v&1.0a;
5、耐压:ac700...
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邮票孔模块测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin...
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赛灵思 fbga484 功能性测试治具 测试架 检测夹具 测试socket
bga484测试架测试治具测试夹具
性能参数:
接触方式:pogopin
机械寿命:10万
工作频率:700mhz;
工作温度:常温;
单pin电流:1a;
接触阻抗:≤100mω
射频信号:无
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