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产品名称：to 系列老化座
型号：to46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实...

产品名称：to 系列老化座
型号：to56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验...

产品名称：to 系列老化座
型号：to46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验...

1. usb公头使用优质工程塑料制成，可降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接触电...

1. usb公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...

1. usb公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...

1. usb公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接...

测试座型号：1210贴片电容测试座
适配电容尺寸：3.2mm*2.5mm
封装型号：1210
高低温范围：-55℃—— 150℃

测试座（夹具）特点：
①ate自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。
③测试...

测试座型号：0603贴片电容测试座
适配电容尺寸：1.6mm*0.8mm
封装型号：0603
高低温范围：-55℃—— 150℃

一、产品用途:bga152/132探针测试座，对bga152/bga132的芯片进行测试
二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm
三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0
四、有球无球兼...

专业定制各类ic测试座、测试治具、老化座
一件起订，价格优惠
sop封装，88pin 1.27间距

在客供的pcb主板装上一拖二式测试座

型号: bga80-1.0合金翻盖探针测试座
适用场景: 测试 烧录 编程 老化
封装方式: bga
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测试座类型: 翻盖式

材料&特性：
socket本体：pei
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5kg min ，pin越多压力越大
绝缘阻抗：1,000mω，500vdc
最大电流：2a
使用温度：-55℃~175℃@3000小时...

适用封装芯片为：clcc44pin 间距为1.27mm 尺寸：16.5*16.5m
根据客户需求，上盖和底盖均需要做避空处理

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座