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» » 搜索:测试
sop16(20)-1.27下压弹片ic老化座
绝 缘 体: pei、pps
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
更多
sop8(20)-1.27下压弹片ic老化座
绝 缘 体: pei、pps
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
更多
sop16(16)-1.27下压弹片芯片
测试
老化座
绝 缘 体: pei、pps
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
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sop14(16)-1.27芯片
测试
老化座
绝 缘 体: pei、pps
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
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sop8(16)-1.27芯片
测试
老化座
绝缘体: pei、pps
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
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sop20(28)-0.65芯片老化
测试
座
绝缘体: pei、pps
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
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tsop66-0.6下压弹片ic
测试
老化座
产品用途: 老化座、
测试
座,对tsop66的ic芯片进行
测试
适用封装: tsop66引脚间距0.65mm
测 试 座: tsop66-0.65 socket
特 点: 采用双触点...
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tsop48宽窄共用ic闪存
测试
老化座
产品用途:老化座、
测试
座,对tsop48的ic芯片进行
测试
适用封装:tsop48 引脚间距0.5mm
测 试 座: tsop48宽窄共用老化座
特 点: 宽...
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tsop56下压弹片ic
测试
老化座
产品用途: 老化座、
测试
座,对tsop56的ic芯片进行
测试
适用封装: tsop56引脚间距0.5mm
测 试 座: tsop56-0.5-01
特 点: 底部引出引脚为不...
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tsop54-0.8下压弹片ic
测试
老化座
产品用途: 老化座、
测试
座,对tsop54的ic芯片进行
测试
适用封装: tsop54引脚间距0.8mm
测 试 座: tsop54-0.8 socket
特 点: 导电体采用...
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标准tsop48芯片烧录座 闪存
测试
座
产品用途:老化座、
测试
座,对tsop48的ic芯片进行
测试
、烧录
适用封装:tsop48 引脚间距0.5mm
测 试 座:tsop48烧录座
更多
tsop48下压宽体flash芯片老化座
产品用途: 老化座、
测试
座,对tsop48的ic芯片进行
测试
适用封装: tsop48宽体 引脚间距0.5mm
测 试 座: nan flash
特 点: 直接采用客户...
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dfn8烧录座 dfn8(6*5)-1.27翻盖探针ic
测试
座
产品用途:编程座、
测试
座,对dfn8的ic芯片进行烧写、
测试
适用封装:dfn8 引脚间距1.27mm
测 试 座:dfn8(5*6)-1.27
特 点:采用u型顶...
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dfn8(2*3)-0.5翻盖探针ic
测试
座
产品用途:编程座、
测试
座,对dfn8的ic芯片进行烧写、
测试
适用封装:dfn8 引脚间距0.5mm
测 试 座:dfn8(2*3)-0.5
特 点:采用u型顶...
更多
qfn52-0.5翻盖弹片ic
测试
老化座
产品用途:编程座、
测试
座,对qfn52的ic芯片进行老化、
测试
适用封装:qfn52引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn52-0.5
特 点:采用u型顶针,接...
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qfn64-0.5翻盖弹片ic
测试
座
产品用途:编程座、
测试
座,对qfn64的ic芯片进行烧写、
测试
适用封装:qfn64-0.5
测 试 座:qfn64-0.5烧录座
特 点:底部引出引脚为...
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qfn64-0.5翻盖弹片ic测度老化座
产品用途: 编程座、
测试
座,对qfn64的ic芯片进行烧写、
测试
适用封装: qfn64引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn64-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规...
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qfn60-0.4翻盖弹片ic
测试
老化座
产品用途:编程座、
测试
座,对qfn60的ic芯片进行老化、
测试
适用封装:qfn60引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn60-0.4
特 点:采用u型顶针,接...
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qfn56-0.5翻盖弹片ic老化座
产品用途:编程座、
测试
座,对qfn56的ic芯片进行烧写、
测试
适用封装:qfn56引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn56-0.5
特 点:采用u型顶针,接...
更多
qfn56-0.5翻盖弹片单板ic编程座
产品用途:编程座、
测试
座,对qfn56的ic芯片进行烧写、
测试
适用封装:qfn56引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn56-0.5
特 点:采用u型顶针,接...
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