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[鸿怡动态]ic老化一站式服务，请选择鸿怡电子2022年06月14日 11:24: 电子时代，随着电子产品更新叠代速度的加快，消费者对产品的挑剔不仅仅局限于产品的外观，对电子产品内在的质量、稳定性也有了诸多要求。一颗好的芯片在电子产品中如同心脏一般起着至关重要的作用。芯片的好坏，直接影响着电子产品的使用寿命。当前芯片在封装好出厂前，芯片厂商都还会再进行严密的老化试验，一般的老化试验会根据芯片的应用场景不同，包括htol高低温加速老化和hast的温湿度老化测试。加速老化htol【high temperature operating life】，即在高温; 阅读（30）标签：qfn系列

[鸿怡动态]下压式ic老化座_np506-020-045-sc-g_qfn20-0.4芯片测试座2021年10月18日 14:42: 工厂介绍鸿怡电子生产下压式ic老化座_np506-020-045-sc-g_qfn20-0.4芯片测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn20的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn20 引脚间距0.4mm测试座:qfn20-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-20-0.4引脚; 阅读（50）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_qfn芯片老化座2021年10月18日 11:35: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_qfn芯片老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn28的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn28引脚间距0.4mm测试座:qfn28-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-28-0.4引脚间距(mm):0.4脚位; 阅读（57）标签：dfn8|qfn系列|产品|qfn老化座|qfn烧录座|wson8|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]qfn32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座2021年10月18日 11:29: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试适用封装：qfn32引脚间距0.5mm测试座：qfn32-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸qfn32编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（32）标签：dfn8|qfn系列|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座2021年10月18日 11:10: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。老化测试座qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座编程座烧录夹具插座适配封装：qfn封装-16pin间距：0.5mm尺寸：3*3mm; 阅读（37）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn76老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器烧写座2021年10月14日 10:35: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn76老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器烧写座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn76的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn76 引脚间距0.4mm测试座:qfn76-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-76-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:; 阅读（23）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn72-0.5翻盖弹片测试座_qfn72老化座_编程器测试座2021年10月14日 10:19: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn72-0.5翻盖弹片测试座_qfn72老化座_编程器测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对qfn72的ic芯片进行烧写、测试适用封装：qfn72引脚间距0.5mm测试座：qfn72-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸qfn72编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适; 阅读（13）标签：车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|qfn系列|dfn8|产品

[鸿怡动态]qfn64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_ic549-0644-008-g烧录座2021年10月13日 11:44: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_ic549-0644-008-g烧录座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。封装：qfn-64-04 尺寸：8*8型号：ic549-0644-008-g; 阅读（24）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_镀金弹片2021年10月13日 11:30: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_镀金弹片，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn60的ic芯片进行老化、测试适用封装:qfn60引脚间距0.4mm测试座:qfn60-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-60-0.4引脚间距(mm):0.4; 阅读（11）标签：车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|qfn系列|dfn8|产品

[鸿怡动态]qfn56-0.4芯片测试座_下压老化座_np506-056-006-sc-g编程座2021年10月13日 11:16: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn56-0.4芯片测试座_下压老化座_np506-056-006-sc-g编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn56的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn56引脚间距0.4mm测试座:qfn56-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-56-0.4引脚间距; 阅读（11）标签：dfn8|qfn系列|产品|wson8|车规芯片老化测试座|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn56老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_ic550-0564-010-g2021年10月13日 10:04: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn56老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_ic550-0564-010-g，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn56的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn56引脚间距0.4mm测试座:qfn56-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-56-0.4引脚间; 阅读（13）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座2021年10月12日 12:01: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn52的ic芯片进行老化、测试适用封装:qfn52引脚间距0.4mm测试座:qfn52-0.4 特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn52-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:52 适; 阅读（17）标签：qfn系列|dfn8|产品|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]qfn48-0.5烧录测试座_qfn48老炼座_镀金适配座_高温老化座2021年10月11日 10:31: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn48-0.5烧录测试座_qfn48老炼座_镀金适配座_高温老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试适用封装：qfn48-0.4测试座：qfn48-0.4老化座规格尺寸qfn48编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（18）标签：产品|qfn系列|dfn8|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]qfn44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金ic编程座ic549-0444-015-g2021年10月09日 17:09: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金ic编程座ic549-0444-015-g，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn44的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn44引脚间距0.4mm测试座:qfn44-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-4; 阅读（13）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn40-0.4芯片座_qfn40老化座_间距0.4下压老化座2021年10月09日 16:38: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn40-0.4芯片座_qfn40老化座_间距0.4下压老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn40引脚间距0.4mm测试座:qfn40-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-40-0.4引脚间距(mm; 阅读（18）标签：产品|qfn系列|dfn8|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|车规芯片老化测试座

[常见问题]ic测试座的清洁和保养2021年10月08日 12:18: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 ic测试座使用一段时间后，针尖会残留一些锡渣或者灰尘，将引起测试不稳定；可以使用防静电刷，蘸上无水酒精，轻轻刷探针去除残留物，有条件可以使用气枪吹socket探针区域，效果更好；（注意：不要使用洗板水，因为洗板水会和探针表面镀金层反应，影响测试稳定性）如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（46）标签：产品|qfn系列|dfn8|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]icsocket关于pcb板的设计2021年10月08日 12:15: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。为了保障pcb板的强度和接触稳定性，建议客户pcb板的厚度1.6mm，焊盘镀金抗氧化性更强，锁螺丝处覆铜；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（49）标签：产品|qfn系列|dfn8|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]产品结构件材料的性能区别2021年10月08日 12:09: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。钻孔板、浮板为socket的核心部件，起到固定探针，导向芯片的作用，测试时经常磨损，所以对材料的要求很高，目前市面上常用的材料有fr4、torlon pai、pei、pps、peek 陶瓷等。 fr4是普通材料，性能最差，容易磨损，毛刺较多，长时间测试，容易出现测试不稳定现象，已经慢慢淘汰，而其他四种为工; 阅读（84）标签：dfn8|qfn系列|产品|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]探针烧毁的原因分析2021年10月08日 12:04: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。某些ic芯片有可能内部短路，在测试时，造成电流过大，引起探针、针板等配件烧坏，甚至烧坏客户的pcba板，所以在上电测试之前一定要确保ic芯片是没有内部短路的；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（51）标签：|dfn8|qfn系列|车规芯片老化测试座|wson8|产品|bga老化测试座||qfn烧录座|微针模组|qfn老化座

[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别2021年10月08日 12:01: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。有锡球测试：指测试带有完整锡球的ic芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触；无锡球测试：指测试没有锡球的ic芯片，采用尖头探针，直接与pad接触；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（33）标签：dfn8|qfn系列|产品|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|bga老化测试座||

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