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bga芯片测试座,适配bga封装的256pin芯片,间距0.8mm
芯片尺寸17mm*17mm
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适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
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各类芯片的测试座、老化座
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ic测试座下压弹片老化座qfn56(8*8)烧写座0.5间距双触点可
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本款ic测试座适配qfn封装 56pin 0.5mm间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
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客制品-根据客户提供模块参数,
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欢迎来图咨询
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陶瓷封装sop16合金翻盖测试座 老化编程座 16pin socket
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各类陶瓷封装的cqfp、sop芯片测试socket
本测试座适用于陶瓷封装的sop16pin 间距1.27mm的芯片
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产品,适配emcp162/186 封装芯片 可设计任意一拖几结构;
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根据客户需求
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无需lay板,可直接装在客的pcb板上
可批量测试/烧录四颗bga芯片,省时省力
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工厂直销,专业
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各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
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bga97-0.8(9x9mm)下压探针老化座
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各封装、脚位、pin数芯片老化测试座; 本款老化座,适配bga97脚,间距0.8,尺寸9*9mm的芯片; 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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bga一拖四翻盖探针测试治具
产品数据:
1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料:fp4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封装:bga/qfp/qfn/wscp等
4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、open-top
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定制
qfp128-0.4(14×14)合金旋钮芯片测试座
工厂直销,qfp44-0.8合金翻盖测试座;
可根据客户需求
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不同封装、间距、尺寸的ic测试座;
欢迎来图,来电咨询洽谈;
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客制-qfn64合金翻盖探针芯片测试座
根据客户需求
定制
qfn翻盖探针测试座;
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lpddr2-220ball芯片测试治具
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ddr/lpddr芯片测试治具;
无需lay板,可直接将治具装在客户提供的pcb板上。测试芯片好坏,容量,省时省力;
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